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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
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Extensively revised and updated with additional material included in existing chapters and new material on angle resolved XPS, surface engineering and complimentary methods. aeo Includes an accessible introduction to the key spectroscopic techniques in surface analysis. aeo Provides descriptions of latest instruments and techniques. aeo Includes a detailed glossary of key surface analysis terms.
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Autore:
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Editore:
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Anno:2003
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Rilegatura:Paperback / softback
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Pagine:226 p.
Testo in English
Dimensioni:
231 x 167 mm
Peso:
338 gr.
EAN:
9780470847138
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