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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
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Autore:
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Editore:
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Anno:1993
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Rilegatura:Hardback
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Pagine:180 p.
Testo in English
Dimensioni:
234 x 156 mm
EAN:
9780442006433
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