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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques
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This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.
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Curatore:
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Editore:
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Collana:The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Anno:1999
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Rilegatura:Hardback
Pagine:
255 p.
Testo in English
Dimensioni:
235 x 155 mm
Peso:
1250 gr.
EAN:
9780412145612
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