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Control of Complex Systems
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Delay Effects on Stability: A Robust Control Approach
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Issues of Fault Diagnosis for Dynamic Systems
Venditore: FeltrinelliSpringer London Ltd, 2010Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane272,20 € -
Computational Surface and Roundness Metrology
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Venditore: FeltrinelliMorgan & Claypool Publishers, 2015Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane35,10 € -
Measurement Systems: Applications and Design
Venditore: FeltrinelliClanrye International, 2015Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane178,10 € -
Measurement Essentials
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Features, Challenges and Applications of Particle Image Velocimetry
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The VNA Applications Handbook
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Quantitative Core Level Photoelectron Spectroscopy
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Instrumentation and Measurement in Electrical Engineering
Venditore: FeltrinelliBrown Walker Press (FL), 2011Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane66,90 € -
AI Precision: Accuracy versus Error
Venditore: Feltrinelli29,40 € -
Ceramic Sensors: Technology and Applications
Venditore: FeltrinelliTaylor & Francis Inc, 1996Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane386,40 € -
Strategic Applications of Measurement Technologies and Instrumentation
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Eddy-Current Nondestructive Evaluation
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2019Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane218,80 € -
Electron Lenses for Super-Colliders
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2016Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane67,40 € -
Handbook of Modern Sensors: Physics, Designs, and Applications
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2014Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane172,40 € -
On-Chip Instrumentation: Design and Debug for Systems on Chip
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Measuring Technology and Mechatronics Automation in Electrical Engineering
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Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion: A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation
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Quantum Metrology and Fundamental Physical Constants
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2013Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane272,40 € -
Acoustical Imaging: Volume 15
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2013Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane61,10 € -
Instrumentation in Applied Nuclear Chemistry
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2012Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane67,80 € -
Evaluating Measurement Accuracy: A Practical Approach
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Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5: Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
Venditore: Feltrinelli273,30 €
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Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.