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Radiation Effects on the Electrical Properties of Hafnium Oxide Based MOS Capacitors
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Radiation Effects on the Electrical Properties of Hafnium Oxide Based MOS Capacitors
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Autore:
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Editore:
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Anno:2025
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Rilegatura:Hardback
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Pagine:116 p.
Testo in English
Dimensioni:
234 x 156 mm
Peso:
340 gr.
EAN:
9781025135274
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