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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
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Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Autore:
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Editore:
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Collana:Springer Series in Optical Sciences
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Anno:2010
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Rilegatura:Paperback / softback
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Pagine:529 p.
Testo in English
Dimensioni:
235 x 155 mm
Peso:
825 gr.
EAN:
9783642083723
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