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Software Defect and Operational Profile Modeling
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Software Defect and Operational Profile Modeling
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also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
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Autore:
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Editore:
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Collana:International Series in Software Engineering
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Anno:1998
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Rilegatura:Hardback
Pagine:
268 p.
Testo in English
Dimensioni:
235 x 155 mm
EAN:
9780792382591
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