Libri di Brandon Noia
-
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Venditore: FeltrinelliSpringer International Publishing AG, 2013Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisp. in 2 settimane131,00 €
Informazioni sull’ordinamento
Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.