Libri di Ireneusz Mrozek
-
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Venditore: FeltrinelliSpringer International Publishing AG, 2018Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane64,10 € -
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Venditore: FeltrinelliSpringer Nature Switzerland AG, 2019Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane69,30 €
Informazioni sull’ordinamento
Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.