LIBRO INGLESE
X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
136,20 €
+1360
punti 
Venditore: Feltrinelli
Articolo acquistabile con Carta del Docente
Articolo acquistabile con Carta Cultura Giovani e Carta del Merito
Articolo acquistabile con Carta della Cultura
Paga con Klarna in 3 rate senza interessi per ordini superiori a 39 €
Dati e Statistiche
Salvato in 0 liste dei desideri
Salvato in 0 liste dei desideri
X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Disponibilità in 2 settimane
136,20 €
136,20 €
Disponibilità in 2 settimane
New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.
-
Autore:
-
Traduttore:
-
Editore:
-
Anno:2011
-
Rilegatura:Paperback / softback
Pagine:
371 p.
Testo in English
Dimensioni:
235 x 155 mm
EAN:
9783642748042
Informazioni e Contatti sulla Sicurezza dei Prodotti
Le schede prodotto sono aggiornate in conformità al Regolamento UE 988/2023. Laddove ci fossero taluni dati non disponibili per ragioni indipendenti da Feltrinelli, vi informiamo che stiamo compiendo ogni ragionevole sforzo per inserirli. Vi invitiamo a controllare periodicamente il sito www.lafeltrinelli.it per eventuali novità e aggiornamenti.
Per le vendite di prodotti da terze parti, ciascun venditore si assume la piena e diretta responsabilità per la commercializzazione del prodotto e per la sua conformità al Regolamento UE 988/2023, nonché alle normative nazionali ed europee vigenti.
Per informazioni sulla sicurezza dei prodotti, contattare productsafety@feltrinelli.it
