Brandon Noia
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
84,23 €
Informazioni sull’ordinamento
Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.