Philippe Pougnet
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
139,99 € -
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
139,99 € -
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
139,99 €
Informazioni sull’ordinamento
Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.