Libri di Cher Ming Tan
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Springer Verlag, Singapore, 2013Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisp. in 2 settimane68,70 € -
Electromigration In Ulsi Interconnections
World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2010Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisp. in 2 settimane134,40 € -
Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
272,90 € -
Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
267,90 € -
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
137,00 € -
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
132,00 €
Informazioni sull’ordinamento
Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.