Libri di J. Doneker
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
Venditore: FeltrinelliTaylor & Francis Ltd, 1998Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane546,50 €
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