Libri di José Pineda De Gyvez
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration
Venditore: Feltrinelli68,00 € -
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration
Venditore: Feltrinelli63,00 € -
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2014Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisp. in 2 settimane137,80 € -
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2010Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisp. in 2 settimane249,30 € -
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Venditore: Feltrinelli132,60 € -
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2007Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisp. in 2 settimane269,30 €
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Vengono mostrati per primi i prodotti che rispondono a questi criteri: rilevanza rispetto alla ricerca, dati di venduto, disponibilità, data di pubblicazione, tipologia di prodotto, personalizzazione ad eccezione delle sponsorizzazioni.