Libri di Taeho Kim
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Venditore: FeltrinelliSpringer-Verlag New York Inc., 2014Libri in Inglese | Science, Computer & TechnologyDisponibilità in 2 settimane211,40 € -
Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Venditore: Feltrinelli206,40 €
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