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Libri di Way Kuo

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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

di Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim
Springer-Verlag New York Inc., 2014
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Libri in Inglese | Science, Computer & Technology

Disponibilità in 2 settimane

211,40 €

Venditore: Feltrinelli
Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

di Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim
Springer, 1998
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Libri in Inglese | Science, Computer & Technology

Disponibilità in 2 settimane

206,40 €

Venditore: Feltrinelli
Optimal Reliability Design: Fundamentals and Applications

di Way Kuo, V. Rajendra Prasad, Frank A. Tillman
Cambridge University Press, 2006
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Libri in Inglese | Science, Computer & Technology

Disponibilità in 2 settimane

83,50 €

Venditore: Feltrinelli

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