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Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures
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Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures
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This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques. Additionally, the book provides an in depth state-of-the-art research results and methods for fault tolerance as well as the methodology for designing fault-tolerant systems out of highly unreliable components.
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Autore:
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Editore:
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Anno:2014
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Rilegatura:Paperback / softback
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Pagine:195 p.
Testo in English
Dimensioni:
235 x 155 mm
EAN:
9781489982544
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