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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
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This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.
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Curatore:
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Editore:
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Anno:2010
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Rilegatura:Paperback / softback
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Pagine:522 p.
Testo in English
Dimensioni:
235 x 155 mm
Peso:
813 gr.
EAN:
9781441922090
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